評価試験を行っている一日に数十回抜き差しをするトランシーバーですが規格上の耐久回数はどうなっているのでしょう。

機器側が100回。コネクター側は50回。

MOLEXの機器側コネクターの試験仕様では250回

SFF-8071 Table 7-1 TS-1000 REQUIREMENTS

   
Rated Durability Cycles 250
Field Life (3, 5, 7, or 10 years) 10 years

SFF-8071 TABLE 7-3 MECHANICAL REQUIREMENTS

   
Connector/ Cage Durability 100 cycles
Module Durability  50 cycles

 

QSFPに関して記述されているSFF-8662もほぼ同様の値です。

USB-Cコネクターの一万回想定等と比べるとかなり厳しい数字です。接点数もおおいですからね。

この値を守るとなると、評価用貸し出し機材は50回を遥かに超えた回数挿抜したものを出しています。

また手元には2002年製造の1Gbpsトランシーバーを現用しております。

 


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